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膜厚標準片硅Si
美國UPA/VEECO X射線測厚儀鍍層標準片
美國UPA/VEECO鍍層標準片（薄膜片）包含有金，鎳，銀，錫，鎘，鈦，鐵，銅，鋅，鉻，鋁，鈀，鉛，鈷，鉑，鉬，銠，釕，鎬，鎳磷合金，錫鉛合金，鋅鎳合金，鈀鎳合金等等，有帶底材和不帶底材區(qū)分，滿足大部分表面處理金屬厚度測量的需要。
X射線測厚儀鍍層標準片適用于費希爾Fischer、宏德Roentgenanalytik、牛津Oxford、CMI、布魯克Burker、熱電Thermo、Veeco、微先鋒Micro Pioneer、精工Seiko、島津、電測、博曼BOWMAN、納優(yōu)、天瑞、華唯等各廠牌X-ray（X射線測厚儀）的建檔、校準和校驗。
X射線測厚儀鍍層標準片的特色：標準片NIST、A2LA校正認證，質量精良，精度高、穩(wěn)定性好;
X射線測厚儀鍍層標準片一般分為單鍍層片，雙鍍層片、多鍍層片、合金鍍層片、化學鍍層片。例如：單鍍層：Ag/xx，雙鍍層：Au/Ni/xx， 三鍍層：
Au/Pd/Ni/xx，合金鍍層：Sn-Pb/xx， 化學鍍層：Ni-P/xx。（所有標準片都附有NIST證書，具有權威性）
美國UPA/VEECO公司是專業(yè)生產X射線熒光金屬鍍層測厚儀標準片，以及對標準片進行重新鑒定，其所有證書都是符合NIST（National Institute of
Standards and Technology美國國家標準與技術研究院）標準或ANSI（American National Standards Institute美國國家標準學會）標準。
X射線測厚儀鍍層標準片又叫膜厚儀校準片或者薄膜片，專業(yè)用于X射線測厚儀（膜厚儀）在測金屬鍍層厚度時進行的儀器標準化校準及建立測量分析檔案。
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